Données De Rack; Position Spéciale - Metrohm 789 Robotic Sample Processor XL Mode D'emploi

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3.7.3
Données de rack
Metrohm Sample Processor, Maniement
Lors de plusieurs applications, il est absolument nécessaire d'observer
le procédé et la taille des récipients. Comme les racks d'échantillons
sont en accord avec des tailles de récipients particulières, les défini-
tions de rack contiennent en plus des positions de rack véritables éga-
lement des données caractéristiques des positions d'élévateur, qui
dépendent directement des tailles des récipients.
Pour chaque rack, les données caractéristiques suivantes sont définies:
Nom de rack
Code
Position de travail
Position de rinçage
Position de rotation
Position spéciale
Rayon du bécher
Détecteur de bécher
Position spéciale de bécher
Le nom de rack sert à une identification sans équivoque du rack. De
manière standard, les racks sont mémorisés sous leurs numéros de
commande. Ce nom de rack peut être attribué à une méthode (voir
chapitre 3.3.2). Grâce à la reconnaissance automatique de rack, on a
ainsi la garantie, que lors d'une utilisation erronée d'un rack, ceci serait
immédiatement reconnu par l'utilisateur et un message serait affiché.
Le code sert à la reconnaissance automatique. Il faut s'assurer que le
code binaire à six positions correspond bien avec le code magnétique
effectif disponible sur le rack. Les codes de rack peuvent être modifiés
à volonté. Ils doivent cependant être attribués sans équivoque à un seul
rack. On doit éviter d'attribuer des noms de codes prédéfinis pour les
racks standards livrés par Metrohm, voir également page 93.
3.7 Rack d'échantillons
Identification sans équivoque, de
manière standard le numéro d'article
Code magnétique pour la recon-
naissance automatique de rack
Position de travail pour élévateur 1 et
2
*
Position de rinçage pour élévateur 1
*
et 2
Position de rotation pour élévateur 1
et 2
*
Hauteur supplémentaire pour éléva-
*
teur 1 et 2
Rayon du bécher échantillon
Mode de contrôle du bécher
16 positions de rack réservées avec
position de travail individuelle, rayon
de bécher et test détecteur de bé-
cher
*
réglable pour les deux tours indépen-
damment
95

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778 sample processor

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