Table des Matières
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3.2 Configuration
>Charger rack
pos. rotation T2
>Charger rack
pos. spéciale T1
>Charger rack
pos. spéciale T2
>Charger rack
rayon de bécher
Ce réglage est nécessaire au contrôle automatique du rayon de bécher, voir
page 61.
>Charger rack
capteur bécher:
Le détecteur de bécher contrôle la présence d'un récipient échantillon avec
une instruction MOVE. Sélectionner pour les rack d'une seule rangée la va-
leur
>Charger rack
rack offset
*
)
citées ci-dessus et le rack offset.
Positions béchers spéciaux
>>Charger rack
>>>Pos. spéciales
avec
Les positions de béchers spéciaux sont des places prédéfinies sur un rack
<QUIT>, ac-
d'échantillons, qui ne sont pas traitées en tant que positions échantillons.
cès
Elles peuvent être occupées par des béchers de rinçage ou de condition-
au niveau supé-
nement et être utilisées d'une manière précise au cours du déroulement
rieur suivant
d'une méthode. Il est possible de définir 16 positions spéciales par rack.
Pour chaque bécher spécial, il est possible d'entrer la hauteur de travail de
l'élévateur pour tour 1 et 2, ainsi que le rayon de bécher, voir plus haut.
64
0...235 mm
0...235 mm
0...235 mm
*, 1...100 mm
tour, pivot., non
.
indique le capteur Piezo sur le bras pivotant.
tour
pivot.
-5.00...0.00...5.00°
Avec <LEARN>, il est possible de régler toutes les positions d'élévateur
Position de rotation pour les béchers
0 mm
échantillons sur la tour 2 *
(en mm en partant de la butée supérieure)
Position spéciale pour les béchers
0 mm
échantillons sur la tour 1 *
(en mm en partant de la butée supérieure)
Position spéciale pour les béchers
0 mm
échantillons sur la tour 2 *
(en mm en partant de la butée supérieure)
Rayon de bécher effectif des positions
* mm
d'échantillons du rack
* = quelconque
Sélection du détecteur de béchers
tour
Correction d'angle du rack d'échantillons
0.00°
*
)
Sous-menu positions spéciales
Ouvrir avec <ENTER>
)
)
)
Metrohm Sample Processor, Maniement
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