7.15 Système De Mesure De La Conductivité - Metrohm 850 Professional IC Mode D'emploi

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7.15 Système de mesure de la conductivité
7.15
Système de mesure de la conductivité
Type
Gamme de
mesure
Bruit de fond
Déviations de la
linéarité
Dérive
Débit de mesure
Résolution
Ligne de base
Détecteur de con-
ductivité
Volume de cel-
lule
Constante de
cellule
Electrodes
Matériaux au
contact de
l'éluant
Pression de
fonctionnement
maximale
Température de
cellule
Stabilité de la
température
Compensation
de la tempéra-
ture
Temps
d'échauffement
■■■■■■■■
118
Digital-Signal-Processing (technique DSP) commandé par micropro-
cesseur
Détecteur intelligent avec 6 chromatogrammes modèles
0...15000 µS/cm sans changement de gamme
< 0.1 nS pour 1 µS/cm
< 1 % pour des valeurs de conductivité de pointe 1...16 µS/cm (typi-
que pour analyses avec suppression séquentielle).
< 0.2 nS/cm par heure
10 mesures par seconde pour des résultats optimaux sans filtration
0.0047 nS/cm
Bruit de fond < 0.2 nS/cm typique pour suppression séquentielle.
0.8 µL
Données individuelles de calibrage enregistrées dans le détecteur
gamme réglable : 13.0...21.0 /cm
Electrodes annulaires en acier inoxydable
PCTFE inerte chimiquement
5.0 MPa (50 bar)
20...50 °C par paliers de 5 °C
< 0.001 °C
0...5 %/K réglable, par défaut 2.3 %/K
< 30 minutes (40 °C)
■■■■■■■■■■■■■■■■■■■■■■
850 Professional IC – Anion – MCS – LP Gradient

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