Erreurs D'autotest - Agilent Technologies Agilent 33220A Guide D'utilisation

Erreurs d'autotest

Les erreurs suivantes indiquent les pannes qui peuvent se produire
pendant un autotest. Reportez-vous au manuel "Service Guide" de
l'Agilent 33220A pour de plus amples informations.
601 Self-test failed; system logic
Cette erreur indique une panne du processeur principal (U101), de la
RAM système (U102) ou de la ROM système (U103).
603 Self-test failed; waveform logic
Cette erreur indique que la logique de signal dans le circuit de synthèse
(U501) est défectueuse.
Self-test failed; waveform memory bank
604
Cette erreur indique que la RAM de signal (U502) ou le circuit de
synthèse (U501) est défectueux.
605 Self-test failed; modulation memory bank
Cette erreur indique que la banque mémoire de modulation dans le
circuit de synthèse (U501) est défectueuse.
Self-test failed; cross-isolation interface
606
Cette erreur indique que l'interface d'isolement croisé entre le processeur
principal (U101) et le circuit de synthèse (U501) est défectueuse, ou que
le circuit de synthèse lui-même est défectueux.
616 Self-test failed; pulse phase locked loop
Cette erreur indique qu'une boucle de verrouillage de phase dans le
synthétiseur de signal d'impulsions n'est pas correctement verrouillée et
que la fréquence des signaux d'impulsions (et eux seuls) peut ne pas être
correcte. Indique une panne du circuit de synthèse (U501) ou des circuits
associés.
619 à 621 619: Self-test failed; leading edge DAC
623 à 625
620: Self-test failed; trailing edge DAC
621: Self-test failed; square-wave threshold DAC
623: Self-test failed; dc offset DAC
624: Self-test failed; null DAC
625: Self-test failed; amplitude DAC
Chapitre 5 Messages d'erreur
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