Table des Matières
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Caractéristiques
Sonde du
capteur
Principe de
mesure
Gamme de
mesures
De l'épaisseur du
revêtement
Précision
(%de lecture)
Résolution
Rayon de
courbure minimum
De substrat
Diamètre de zone
minimum De substrat
Epaisseur critique
de base De
substrat
Normes
industrielles
Température de
fonctionnement
Humidité relative
(HR) de
fonctionnement
Dimensions
Poids
La déclaration relative à la précision s'applique à une surface plane, avec un calibrage zéro effectué à
proximité de l'épaisseur du film à mesurer, avec une base métallique identique et avec l'appareil stabilisé à
température ambiante. La précision des films de référence ou de tout standard de
ajoutée aux résultats des mesures.
Tous droits réservés, y compris la reproduction partielle ou totale sous quelque forme que ce soit.
Ferreux
Induction magnétique
0~1 250 μm
0~49,21 mils
0~850 μm : ±(3% + 1μm)
850 μm ~1250 μm : (±5%)
0~33,46 mils : ±(3% + 0,039 mils)
33,46 mils ~49.21 mils : (±5%)
0~50 μm : (0,1 μm)
50 μm ~850 μm : (1 μm)
850 μm ~1250 μm : (0,01 μm)
0~1,968 mils : (0,001 mils)
1,968 mils~33,46 mils : (0,01 mils)
33,46 mils~49,21 mils : (0,1 mils)
1,5 mm (59,05 mils)
7 mm (275,6 mils)
0,5 mm (19,69 mils)
Conforme aux normes GB/T 4956-1985, GB/T 4957-1985, JB/T 8393-
1996, JJG 889-95 et JJG 818-93
0°C~40°C (32°F~104°F)
20 à 90 % d'humidité relative
110 x 50 x 23 mm (4,3 x 2,0 x 1,0")
100 g. (3,9 oz)
Copyright © 2013‐2016 FLIR Systems, Inc.
ISO‐9001 Certified
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Non ferreux
Courant de Foucault
0~1250 μm
0~49,21 mils
0~850 μm : ±(3% + 1,5 μm)
850 μm ~1250 μm : (±5%)
0~33,46 mils : ±(3% + 0,059 mils)
33.46mils ~49,21 mils : (±5%)
0~50 μm : (0,1 μm)
50 μm ~850 μm : (1 μm)
850 μm ~1250 μm : (0,01 μm)
0~1,968 mils : (0,001 mils)
1,968 mils~33.,46 mils : (0.01 mils)
33,46 mils~49,21 mils : (0.1 mils)
3 mm (0,0004 mils)
5 mm (196,9 mils)
0,3 mm (11,81 mils)
13
référence doit être
CG204-fr-FR_v2.5 11/16
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