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Mesure de la résistance d'isolement (suite)
Fluctuations
causées par
les effets de la
température (E
)*
3
Effet de l'humidité
Effet du champ
magnétique
Fluctuations
causées par l'effet
de positionnement
(E
)
1
Fluctuations
causées par les
effets de la tension
d'alimentation (E
)
2
Effets des
composantes de
capacité
* : Applicable à la gamme de températures de fonctionnement autre que 18°C à 28°C.
Tension de mesure
nominale (DC)
Nombre de mesures
possibles
Protection contre
les surcharges
Spécifications de base et de la précision
1ère gamme de
mesure effective
±4% lec.
(0°C à 50°C)
±8% lec.
(supérieur ou égal à
−25°C et inférieur à
0°C, ou supérieur à
50°C et inférieur ou
égal à 65°C)
±4% lec. et dans la
gamme autorisée
±2,4% lec.
±4% lec. et dans la
gamme autorisée
Dans une gamme de ±10% pour une capacité de 5 μF ou
moins (variation comprise)
50 V
125 V
600 V AC (10 s)
HIOKI IR4059A964-00
2e gamme de
mesure effective
±8% lec.
(0°C à 50°C)
±16% lec.
(supérieur ou égal
à −25°C et inférieur
à 0°C, ou supérieur
à 50°C et inférieur
ou égal à 65°C)
±8% lec. et dans la
gamme autorisée
‒
Non applicable
±8% lec. et dans la
gamme autorisée
250 V
1000 fois ou plus
Autre gamme de
mesure
±2% lec. ±6 rés.
(0°C à 50°C)
±4% lec. ±12 rés.
(supérieur ou égal
à −25°C et inférieur
à 0°C, ou supérieur
à 50°C et inférieur
ou égal à 65°C)
±2% lec. ±6 rés.
‒
±2% lec. ±6 rés.
et dans la gamme
autorisée
500 V
1000 V
660 V AC
(10 s)
63
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