Mesure D'échantillons De Référence - Omron ZX-EDR5T Manuel D'utilisation

Section 4
PRINCIPALES APPLICATIONS ET MÉTHODES DE PARAMÉTRAGE
Mesure d'échantillons de référence
La hauteur de l'échantillon de référence se mesure à l'aide de l'apprentissage de
position et le résultat de mesure est enregistré comme valeur de seuil HIGH.
La valeur enregistrée devient la référence de la valeur de seuil définie à l'étape
Reportez-vous à la Section 5, Paramètres détaillés pour obtenir des détails sur le
paramétrage.
Apprentissage de position, p. 91
Il est également possible de définir la hauteur de l'échantillon de référence à zéro.
Définition des valeurs de jugement de tolérance
Reportez-vous au seuil HIGH enregistré à l'étape
supérieure et inférieure (seuils HIGH et LOW) qui donneront un jugement PASS (OK).
La sortie des résultats de jugement HIGH, PASS et LOW est fonction des valeurs de
seuil définies ici.
Reportez-vous à la Section 5, Paramètres détaillés pour obtenir des détails sur
l'opération.
Entrée directe des valeurs seuils, p. 90
Série ZX-E
62
Manuel d'utilisation
Utilisation de la fonction RAZ, p. 119
Résultat de mesure
Résultat de mesure > seuil HIGH
Seuil LOW ≤ résultat de mesure ≤ Seuil HIGH
Seuil LOW > résultat de mesure
.
et définissez les limites
Jugement
HIGH
PASS
LOW