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@
Fig. 15
³
²
Fig. 16
4
Réglage de la hauteur de la platine
} En abaissant la position de la sous-platine, le microscope va pouvoir rece-
voir des échantillons d'une hauteur maximale de 35 mm. Cela s'avère utile
pour l'observation d'échantillons métallurgiques et autres objets épais.
1. Abaisser la platine à sa limite inférieure, ensuite retirer la platine du mi-
croscope. (Voir page 4.)
2. Au moyen d'un tournevis à tige hexagonale, desserrer la vis de blocage
de support de la sous-platine @ et retirer la sous-platine. (Fig. 15)
3. Faire tourner la molette de commande de mise au point rapide et remonter
le bloc de mise au point ³ jusqu'à ce que la vis de butée ² située sur
le bras devienne visible. (Fig. 16)
4. Au moyen du tournevis à tige hexagonale, desserrer et retirer la vis de
butée supérieure ².
5. Refixer l'ensemble sous-platine et platine.
} Ranger la vis de butée ² qui a été retirée dans un endroit sûr de manière
à pouvoir la retrouver en cas de besoin.
BX53/51/41 - P
(Fig. 15 & 16)
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