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24.
Fortlaufendes Testen
Es ist möglich, das gleiche IC wiederholt zu testen, um es auf
intermittierende oder temperaturabhängige Fehler zu testen, oder um
eine größere Menge identischer ICs in sehr kurzer Zeit zu testen. Es
gibt drei Arten dieser Testschleifen: -
Loop
- wiederholt einen Test unabhängig von dem Ergebnis
immer wieder durch.
P Loop
- wiederholt einen Test immer wieder, solange das
Ergebnis PASS (gut) lautet.
F Loop
- wederholt einen Test immer wieder, solange das Ergebnis
FAIL (schlecht) lautet.
Der LinearMaster Compact wird wie oben beschrieben mit der
MODE/CLEAR-Taste auf einen der LOOP-Modi eingestellt. Legen Sie
das IC ein und drücken Sie die TEST/EXEC-Taste, um das fortlaufende
Testverfahren zu starten. Das Ergebnis jedes Tests wird als „PASS"
oder „FAIL" oben rechts auf dem Display angezeigt. Im LOOP-Modus
ermöglicht dies den Test einer großen Anzahl identischer ICs, ohne
dass der Benutzer etwas anderes tun muss als die ICs einzulegen.
Nachdem
das
Verzögerung, bis das Display aktualisiert wird. Im Zweifel kann der Test
einmal im SINGLE-Modus durchgeführt werden, um die Testzeit
ungefähr festzustellen. Sie werden bemerken, dass in diesem Modus
eine höhere Durchgangsleistung erreicht werden kann.
Um eine Testschleife anzuhalten, drücken Sie die CLEAR-Taste. Der
bereits laufende Test wird noch beendet, bevor das Gerät reagiert.
Normalerweise ist das nicht zu bemerken, doch wenn ein Test länger
andauert kommt es zu einer Verzögerung der Reaktion auf die CLEAR-
Taste.
Bitte beachten Sie: Das Testen von ICs mit hohem Stromverbrauch
wird die Batterien schnell verbrauchen, daher raten wir zum
Gebrauch eines externen Netzteils, wenn Sie eine Testschleife
starten wollen. Wenn die Warnung „ICC!" erscheint, stellt sich das
Gerät automatisch auf den SINGLE-Modus um, um eine komplette
Entladung der Batterien zu vermeiden.
LinearMaster Compact Linear IC Tester
IC
eingelegt
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wird,
besteht
eine
IC-abhängige
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