Testen Weiterer Ics; Fortlaufendes Testen - abi ChipMaster Compact Manuel D'utilisation

D/F - das Ergebnis kann ungültig sein, da die letzte
Selbstdiagnose fehlgeschlagen ist.
BAT! - die Batteriespannung war während des Tests zu niedrig.
ICC! - das getestete IC hatte einen hohen Stromverbrauch
Bevor Sie einen fehlerhaften IC aussortieren überprüfen Sie, ob die
korrekte IC-Nummer eingegeben wurde und ob die Pins des ICs alle
sauber sind und fest im Testsockel sitzen.
begonnener Test nicht abgebrochen werden kann (sehen Sie aber die
Schleiftestfunktionen).
23.

Testen weiterer ICs

Nachdem ein Test beendet ist, wird das Ergebnis angezeigt. Um ein
anderes IC desselben Typs zu testen, legen Sie dies einfach ein und
drücken Sie wieder die TEST/EXEC-Taste. Um ein unterschiedliches IC
zu testen, geben Sie auf dem üblichen Wege die neue IC-Nummer ein.
Beachten Sie, dass die Eingabe der ersten Ziffer der neuen Nummer die
vorige Nummer automatisch von der Anzeige löscht. Wieder kann die
MODE/CLEAR-Taste benutzt werden, falls es zu einem Fehler während
der Eingabe kommt.
24.

Fortlaufendes Testen

Es ist möglich, das gleiche IC wiederholt zu testen, um es auf
intermittierende oder temperaturabhängige Fehler zu testen, oder um
eine größere Menge identischer ICs in sehr kurzer Zeit zu testen. Es
gibt drei Arten dieser Testschleifen: -
Loop -
immer wieder durch.
P Loop -
Ergebnis PASS (gut) lautet.
F Loop -
Ergebnis FAIL (schlecht) lautet.
Der ChipMaster Compact wird wie oben beschrieben mit der
MODE/CLEAR-Taste auf einen der LOOP-Modi eingestellt. Legen Sie
das IC ein und drücken Sie die TEST/EXEC-Taste, um das fortlaufende
Testverfahren zu starten. Das Ergebnis jedes Tests wird als „PASS"
oder „FAIL" oben rechts auf dem Display angezeigt. Im LOOP-Modus
ermöglicht dies den Test einer großen Anzahl identischer ICs, ohne
ChipMaster Compact Digital IC Tester
wiederholt einen Test unabhängig von dem Ergebnis
wiederholt einen Test immer wieder, solange das
wiederholt einen Test immer wieder, solange das
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Beachten Sie, dass ein