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IT 465
préliminaire de la tension de contact influence aussi le DDR qui a besoin d'un laps de temps pour
se reposer durant le mode veille. Un retard de 30 s se produit avant que le test de déclenchement
ne s'exécute afin que le DDR du type
retard de 5 s se produit pour la même raison pour le DDR de type
Modification de la section 5.4.1
Type de DDR
AC
AC
A
A
A
A
B
B
Les caractéristiques techniques restent inchangées.
C.2.2 Prise en charge des DDR en Suisse I
Ce qui suit est modifié comme le précise la section 5.4 :
Paramètre de test pour le contrôle et la mesure de DDR
TEST Test de la sous-fonction DDR [RCDt, RCD I, AUTO, Uc].
I Sensibilité du courant différentiel résiduel nominal du DDR I
N
30 mA, 100 mA, 300 mA, 500 mA, 1 000 mA].
Type Type de DDR [ ,
, ,
MUL Facteur de multiplication du courant de test [½, 1, 2, 5 I n].
Ulim Valeur limite de la tension de contact conventionnelle [25 V, 50 V].
Trip-out current (RCD I)
Type de DDR
Valeur initiale
AC
A (I   30 mA)
N
A (I 
< 30 mA)
N
B
S
Tension de contact Uc
proportionnelle à
1.05  I 
,
G
2  1,05  I 
S
1,4  1,05  I 
,
G
2  1,4  1,05  I 
S
2  1,05  I 
,
G
2  2  1,05  I 
S
2  1,05  I 
2  2  1,05  I 
S
Tableau C.1 : Rapport entre Uc et I
, ], forme d'onde du courant de test plus polarité initiale [
* ].
, *,
Plage d'augmentation
Valeur finale
0.2  I  1.1  I 
N
0.2  I  1.5  I 
N
0.2  I  2.2  I 
N
0.2  I  2.2  I 
N
puisse récupérer à l'issue des tests préliminaires ; un
la valeur nominale I
N
N
N
N
N
N
N
N
= 15 mA
N
Forme
d'onde
Sinusoïdal
N
N
Pulsé
N
DC
N
80
Tableau des fusibles
.
G
N
au choix
 30 mA
< 30 mA
au choix

N
[10 mA, 15 mA,
N
,