该仪器对 Geiger-Müller pancake 中由 α、β 和 γ 辐射引起的放
电突崩进行计数。每次放电后,pancake 大约需要几十微秒
的时间进行充电,这段时间称为死区时间。每毫秒仪器会
自动校正一次死区时间的影响。
该仪器没有零点调整功能,测量值包括背景辐射。
测量参数
计数
计数 是当前测量期间所有放电事件的总和,每毫秒校正一
次死区时间。
计数率
计数率 使用一种算法,在几秒钟或更短的响应时间内检测
辐射变化,但在某些情况下可能需要更长的时间进行稳
定。参见第 151 页中的 表 3。
计数率平均时间为 1 秒或更长时间,并且每秒更新一次,
这也是为什么仪器需要至少持续 2 秒的稳定辐射水平才能
可靠地测量计数率。
RaySafe 452 – 用户手册 (ZH)
计数率
(cps)
≤ 0.5
1.5
5
15
50
150
500
≥ 1500
表 3. 计数率稳定时间。
峰值计数率 (^)
峰值计数速率 是自上次重置以来显示的最高计数率。请参
阅计数率的定义。
151
实现最大稳定性的
计数率
时间
(cpm)
≤ 30
60 秒
33 秒
90
10 秒
300
10 秒
900
10 秒
3 k
7 秒
9 k
4 秒
30 k
≥ 90 k
2 秒