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Elimination de l'effet du condensateur parasite
Lorsqu'un composant d'impédance élevée est mesuré (i.e. condensateur de faible valeur), le condensateur
parasite devient un problème important (Figure 4.6). Sur la figure 4.6(a), le condensateur parasite Cd est mis
en parallèle avec le DUT ainsi que le Ci et le Ch. Pour corriger ce problème, ajouter une protection (Figure
4.6(b)) entre les bornes H et L pour freiner le Cd. Si la protection est connecté à la garde de l'instrument,
l'effet de Ci et Ch sera supprimé.
4.2 Compensation circuit ouvert/court circuit
Pour ces instruments de mesure d'impédance de précision, la compensation circuit ouvert/court-circuit doit être
utilisée afin de réduire l 'effet parasite de l'installation de mesure. L'effet parasite de l'installation de mesure peut
être traité comme les composants passifs simples sur la figure 4.7(a). Lorsque le DUT est ouvert, l'instrument a
une conductance Yp = Gp + jωCp (Figure 4.7(b)). Lorsque le DUT est fermé, l'instrument a une impédance Zs =
Rs + jωLs (Figure 4.7(c)). Après la compensation ouverte et fermée, Yp et Zs peuvent donc être utilisés pour le
vrai calcul Zdut (Figure 4.7(d)).
H
CUR
H
POT
DUT
L
POT
L
CUR
(a) CONNECTION
4T
1m 10m100m 1
10
100
1K 10K 100K 1M
(c) TYPICAL IMPEDANCE
MEASUREMENT RANGE(£[)
Figure 4.5
H
H
L
L
CUR
POT
POT
CUR
Cd
DUT
Connection
C
C
h
l
(a) Parastic Effect
Figure 4.6
V
A
(b) BLOCK DIAGRAM
H
CUR
H
POT
L
POT
L
10M
CUR
(d) 4T CONNECTION WITH SHILDING
H
H
L
CUR
POT
POT
Guard
Plant
Point
Ground
(b) Guard Plant reduces
Parastic Effect
DUT
DUT
L
CUR
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