Fonction De Déclenchement - Hioki MR8880-20 Manuel D'instructions

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13.1 Spécifications MR8880-20
(8) Fonction de déclenchement
Méthode de
déclenchement
Enregistrement
répété
Temporisation de
déclenchement
Critères de
déclenchement
Source de
déclenchement
Déclenchement à
intervalle
Types de
déclenchement
(analogique)
Comparaison numérique
Simple, répété
• Fonction [Highspeed] : Démarrage de la
• Fonction de [Realtime] : Démarrage, arrêt, démarrage et arrêt
(les conditions peuvent être réglées pour chaque démarrage et
arrêt)
AND ou OR possibles entre toutes les sources de déclenchement
Source de déclenchement à sélectionner pour chaque canal
Commande libre quand toutes les sources de déclenchement sont
hors tension
1. Entrées analogiques : CH1 à CH4
2. Entrées logiques : LA1 à LA4, LB1 à LB4 (4 canaux x 2 sondes)
3. Déclenchement externe : Signal d'entrée sur la borne de
déclenchement externe
L'enregistrement à un intervalle de mesure spécifié (jour, heure,
minute, seconde) est possible.
Un déclenchement est appliqué au moment du démarrage de la
mesure, puis un autre est appliqué à l'intervalle de mesure réglé.
(Utilisez la fonction de programmation pour indiquer le moment du
démarrage.)
1. Déclenchement à un niveau
Un déclenchement est appliqué lors de la montée ou chute
jusqu'à une valeur de tension réglée.
2. Déclenchement de fenêtre
Réglez les limites supérieure et inférieure du niveau de
déclenchement
3. Déclenchement de chute de tension ([Highspeed] uniquement)
Un déclenchement est appliqué lorsque la crête de tension
chute en dessous du niveau réglé.
(Réservé à l'alimentation secteur de 50/60 Hz.
Le déclenchement ne peut pas être réglé avec la gamme de
base de temps de 50 ms/div et 100 ms/div.)
4. Déclenchement de test d'onde ([Highspeed] uniquement)
Un déclenchement pour réaliser le test d'onde en [Realtime].
(Réservé à l'alimentation secteur. Le déclenchement ne peut
pas être réglé avec la gamme de base de temps de 50 ms/div
et 100 ms/div.)
Cibles de comparaison : Onde sinusoïdale et onde préalable
Période de test : 20 µs (avec 100 μs à 2 ms/div), période
d'échantillonnage (avec 5 ms à 20 ms/div)
Vitesse d'échantillonnage maximale : 1 MS/s (avec une base
de temps de 100 µs/div)