Metrix OX800 Manuel De Maintenance page 25

6.5.2 Amplificateur final X
Ilest constitué de trois étages {schéma page 11/18) :
- Un étage de gain à bas niveau Q1105, Q1117 recevant d'un coté la rampe DDS, le signal
X en mode XY ou le signal TESTX du mode test composants et de l'autre coté la tension
de cadrage horizontal CADX.
Un étage de recopie et de transformation tension/courant (Q1113, Q1114).
Un étage d'attaque du tube comportant deux charges actives constituées par des sources
de courant (Q1107, Q1108, Q1109 et Q1110).
La compression de la dynamique X pour la fonction "Beam Finder" est réalisée par Z1100.
6.6 Circuits annexes
6.6.1 Circuit Test Composants ( schéma page 14/18 et 3/18)
Ce circuit permet la représentation de la courbe 1 = f{V) du composant sous test (la
tension V appliquée au composant est représentée sur l'axe X et le courant | traversant le
composant sur l'axe Y), il comprend :
- Un enroulement spécifique du transformateur d'alimentation (12Veff / 50Hz)
- Un circuit de décalage du niveau DC (21506, CR1509)
- Une CTP de protection R1501
- Un circuit de lecture du courant appliqué au composant en test et d'aiguillage
vers la voie Y (R244, R245, 2202 et 2203).
6.6.2 Circuit de modulation Z
La modulation Z (schéma page 15/18), accessible depuis la BNC en face arrière, attaque
le circuit "ET à diodes" constitué par CR1618 et Q1613.
Le niveau d'allumage et d'extinction de la trace est fixé par le diviseur résistif R1666,
R1667 et le transistor Q1613.
La résistance série R1672 et la double diode CR1619 servent de protection de l'entrée Z
contre les surcharges .