Télécharger Imprimer la page

Kistler 9253B Serie Notice D'utilisation page 44

Plate-forme de mesure à plusieurs composantes

Publicité

Annexe
9253B_002-050f-12.14
Les capteurs piézoélectriques sont dans leur comportement
dynamique supérieurs à toutes les autres méthodes de me-
sure. Du fait de la raideur très élevée, on obtient les fré-
quences propres les plus élevées possibles. Les capteurs
piézoélectriques
conviennent
l'acquisition de mesurandes variant rapidement dans le
temps. Le comportement dynamique du capteur est dé-
terminé essentiellement par la structure environnante. La
réponse en fréquence de tout le dispositif de mesure doit
donc être examinée pour une plage de fréquence utile la
plus grande possible.
Deux possibilités existent dans ce cas :
Analyse de la fréquence
La structure de mesure autour du capteur est excitée, par
ex. à l'aide d'un marteau à impulsion. Les signaux de ré-
ponse enregistrés sont soumis à une analyse de fréquence,
le résultat représenté sous forme d'une réponse en phase-
amplitude.
Méthode des éléments finis (MEF)
La méthode des éléments finis (MEF) est un procédé
d'analyse numérique pour résoudre par approximation des
équations différentielles avec conditions marginales. La mé-
thode des éléments finis permet de calculer des problèmes
tirés de différentes disciplines physiques. Une plage de cal-
cul est subdivisée en un nombre quelconque d'éléments
qui sont petits de manière « finie » et dont le nombre est
« fini ».
Remarque : À l'aide de la méthode des éléments finis, un
corps solide est modélisé en remplacement du capteur, qui
présentera les mêmes dimensions et la même densité
moyenne. Le module d'élasticité moyen est varié continuel-
lement jusqu'à ce que la fréquence propre du corps modé-
lisé coïncide avec les données réelles du capteur (données
techniques). Un corps modélisé de ce type est une bonne
approximation du capteur. Le corps modélisé est implé-
menté dans le modèle complet de la structure de mesure
afin de calculer de cette manière la fréquence propre de
l'ensemble du système. Cette méthode permet de détermi-
ner avec une bonne approximation la réponse en fré-
quence des dispositifs de mesure par le biais du calcul MEF.
ainsi
parfaitement
à
Page 41

Publicité

loading