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37.
Test de plusieurs CI
Dès que le test est terminé, les résultats seront affichés. Pour tester un
autre CI du même type, il faut simplement insérer le prochain CI et
appuyer de nouveau sur la touche TEST/EXEC.
différent, il faut de nouveau entrer le numéro du CI en notant que, en
appuyant sur la première touche, l'ancien numéro sera effacé. Si vous
faites une erreur, veuillez appuyer sur la touche CLEAR
38.
Test en continu
Il est possible de tester le même CI à plusieurs reprises (en boucle) pour
la détection de pannes intermittentes ou pour des problèmes dus à la
température. Cela permet également de tester rapidement un lot de CI
identiques. Il y a trois types de test en boucle:
Loop
- exécute un test plusieurs fois, sans se soucier des
résultats.
P Loop - exécute un test plusieurs fois, si le résultat est PASS.
F Loop - exécute un test plusieurs fois, si le résultat est FAIL.
Le ChipMaster Compact peut être configuré pour un des modes en
boucle en utilisant la touche MODE/CLEAR. Insérez le CI et appuyez
sur la touche TEST/EXEC pour commencer le test en continu.
résultat de chaque test est affiché en PASS ou FAIL. Dans le mode
LOOP, cela veut dire qu'un lot important de CI identiques peut être
soumis à un test en entrant simplement le numéro du CI. Après avoir
introduit le CI, laissez suffisamment de temps pour que le test se
termine avant de mettre à jour les résultats. Pour cela, il faut tester le CI
dans le mode normale pour découvrir le temps approximatif du test.
Notez qu'avec cette technique, un haut débit de CI peut être testé.
Pour arrêter n'importe quelle boucle de test, appuyez sur CLEAR.
Veuillez noter que le test en progrès terminera avant que la commande
soit obéie. En général, l'effet d'arrêter la boucle est peu notable, mais si
le test dure assez longtemps, il y aura un délai avant que le dispositif
réponde à la touche CLEAR.
Note: Tester un CI en boucle épuise les piles très rapidement. Il est
recommandé d'utiliser l'éliminateur de piles pour ce type de test.
ChipMaster Compact Digital IC Tester
Copyright © 1992-2011 ABI Electronics Limited
Page 24
Pour tester un CI
.
Le
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