Définitions Des Paramètres - Taylor Hobson Surtronic 25 Guide De L'utilisateur

Surtronic S25
mathématiques (Gaussien) pour supprimer ou réduire des données
indésirables afin d'étudier les longueurs d'ondes dans la zone d'intérêt.
Largeur de bande. La largeur de bande est le rapport entre la
Coupure supérieure (Lc) et la Coupure inférieure (Ls).
Longueur Echantillon. Le profil est divisé en longueurs
d'échantillon l, qui sont suffisamment longues pour inclure une
quantité statistiquement fiable de données. Pour les analyses de
rugosité et d'ondulation, la longueur d'échantillon est égale à la
longueur d'onde de la coupure sélectionnée (lc). La longueur
d'échantillon est également appelée la longueur de coupure.
Longueur d'Evaluation. La longueur dans la direction de l'axe
X utilisé pour étudier le profil en cours d'évaluation. La longueur
d'évaluation peut contenir une ou plusieurs longueurs
d'échantillon. Pour les profils primaires, la longueur d'évaluation
est égale à la longueur d'échantillon.
Remarque: la quasi-totalité des paramètres sont définis sur une
seule longueur d'échantillon, mais, en pratique, plusieurs
longueurs d'échantillon sont étudiées (généralement cinq) et la
moyenne est calculée. Cette méthode fournit une meilleure
estimation statistique de la valeur mesurée des paramètres.
ISO 3274-1996, ISO 4287-1997, ISO 4288-1996, ISO 11 562 et
d'autres Normes Internationales sont respectées le cas échéant par
le matériel Taylor Hobson.
De plus amples informations sur la texture de surface en général et
sur les instruments de mesure de type palpeur en particulier figurent
dans l'ouvrage 'Exploring Surface Texture', publié par Taylor Hobson.
Définitions des Paramètres
La texture de surface est quantifiée par des paramètres relatifs à
certaines caractéristiques de la texture. Le Surtronic 25 offre les
paramètres suivants :
Page 1-2